고성능 전자제품을 위한 스트레스 스크리닝 시험 챔버

온도 변화, 열 보상 측면에서의 고성능과 생산 라인과의 통합 용이성

온도 변화, 열 보상 측면에서의 고성능과 생산 라인과의 통합 용이성

AI 칩, PCB, SoC와 같은 전자 부품은 환경, 노화 및 스트레스 테스트를 통해 집중적으로 시험됩니다.

고성능 칩을 테스트하는 과정에서 막대한 양의 폐열을 배출해야 합니다. 엔드 오브 라인 테스트의 경우, 산업 생산의 높은 사이클 속도 또한 어려움을 야기합니다. 환경 시뮬레이션 전문 기업인 바이스테크닉(Weiss Technik)은 다양한 표준 및 테스트 시나리오에 맞춰 개별적으로 조정 가능한 광범위한 테스트 챔버 제품군을 제공합니다.

높은 열 부하가 발생하는 테스트를 안전하게 수행하세요.

신생 기업이든 기존의 대형 기업이든, 고성능 전자 부품을 개발하는 모든 기업들은 강력한 테스트 기술을 필요로 합니다. AI 데이터 센터, 드론 및 기타 전자 시스템용 칩을 대상으로 하는 환경 스트레스 스크리닝(ESS) 테스트 과정에서는 높은 열 부하가 발생합니다. 이러한 열을 안전하게 배출하기 위해서는  Weiss Technik에서 제공하는 것과 같이 적절한 사양을 갖춘 테스트 챔버가 필수적입니다. '스트레스 스크리너(stress screener)'라고도 불리는 급속 냉각 장치(blast chiller)는 분당 10~30K(켈빈)의 온도 변화 속도를 구현합니다. 온도 변화 속도가 빠를수록 열 보상 능력이 향상되므로, 더 많은 칩을 동시에 테스트할 수 있습니다.

어떤 표준 및 시험 사양을 충족해야 할까요?

고성능 시험 챔버에서 스트레스, 기능 및 장기 시험을 수행하여 시험 대상물의 기능과 재료 열화 또는 절연 불량과 같은 잠재적 취약점을 검증합니다. 시험편과 시험 목적에 따라 다양한 표준 또는 고객 맞춤형 사양을 충족해야 합니다. 흔히 적용되는 규격으로는 국제 표준인 IEC 60068-2-xx, 반도체 소자 표준인 JEDEC JESD22-A101, 그리고 미 국방부 기술 표준인 MIL-STD-810H 등이 있습니다. 또한 제조사별 규격도 적용됩니다.

통합된 안전 및 결로 방지 기능

까다로운 전자 부품 시험은 기술적으로 높은 수준의 대응을 요구합니다. 이러한 이유로 ClimeEvent 시험 챔버는 포괄적인 안전 개념을 바탕으로 설계되었습니다. 예를 들어, 시험 시료의 전원을 능동적으로 차단할 수 있으며, 하드웨어 및 소프트웨어 방식의 온도 제한 장치를 각각 독립적으로 설정할 수 있습니다. 또한 오작동이나 조작 실수 발생 시에도 작업자와 시험 장비, 그리고 시험 시료를 보호하기 위해 시험 챔버에는 선택 사양으로 전기식 및 기계식 잠금 장치가 장착되어 있습니다.

1,000시간 이상의 장기 시험에서는 일정한 조건을 정밀하게 유지하고 계획된 가동 중단(downtime)을 피하는 것이 중요합니다. 고온 및 높은 이슬점(dew point) 조건에서 장기 시험을 수행할 경우, 챔버 천장에 결로가 발생할 수 있습니다. 시험편 위로 물방울이 떨어지는 것은 규격상 허용되지 않으며, 시험 결과에 영향을 미치고 시험편을 손상시킬 수도 있습니다. 이러한 이유로 Weiss Technik의 모든 온도 및 온습도 챔버는 물방울이 떨어지는 것을 방지하기 위해 시험 챔버 내부에 공기가 순환하는 이중 천장 구조를 채택하고 있습니다.

다양한 표준 장비 및 맞춤형 추가 옵션

기본 사양 외에도 특정 요구 사항에 맞춰 시험 챔버를 구성할 수 있도록 다양한 옵션이 제공됩니다. 시험 시료가 정전기에 민감하거나 챔버를 EPA(정전기 보호 구역)에 설치해야 하는 경우, 이에 적합한 보호 조치를 적용할 수 있습니다. 민감한 전자 제품을 위해 실리콘 사용을 최소화하거나 실리콘을 전혀 사용하지 않는(silicon-free) 챔버를 구현할 수도 있습니다. 또한, 저산소 환경에서의 시험이 필요한 경우에는 질소 시험을 수행할 수 있도록 챔버를 구성할 수 있습니다.

산업용 엔드오브라인(EOL, End-of-Line) 테스트를 통한 높은 생산 속도 유지

최상의 제품 품질을 보장하기 위해, 많은 칩과 전자 부품은 생산 공정의 마지막 단계에서 100% 기능 테스트를 거칩니다. 자동화 또는 반자동화된 생산 흐름에 차질이 생기지 않도록 하기 위해서는 테스트 대상 제품을 최대한 신속하게 투입하고 반출해야 합니다. Weiss Technik은 맞춤형 정밀 솔루션을 통해 테스트 대상물의 신속하고 효율적인 접촉 및 장착을 가능케 합니다. 또한 표준 및 SECS/GEM 인터페이스를 지원하여 테스트 장비를 생산 환경에 손쉽게 통합할 수 있습니다.

최대 부하 조건에서도 테스트 챔버가 효율적이고 지속 가능한 방식으로 작동할까요?

전기 산업의 표준 규격에 따른 시험을 수행할 때의 우선순위는 정밀도와 재현성에 있습니다. 동시에, 특히 급격한 온도 변화를 수반하는 에너지 집약적 시험의 경우 총 소유 비용(TCO)을 절감하는 것 또한 중요합니다. 에너지 절감은 시험 비용을 낮출 수 있을 뿐만 아니라 지속 가능성 목표를 달성하는 데에도 도움이 됩니다. Weiss Technik은 자사의 고성능 스트레스 스크리닝 챔버에 'Greenmode(그린모드)' 에너지 절약 기능을 기본 사양으로 탑재하고 있습니다. 이 모드는 현재 필요한 구성 요소만 가동하여 에너지 소비를 최소화함으로써 운영 비용을 절감하고 부품 마모를 줄여줍니다. 더하여, -50°C까지 냉각 가능한 챔버에는 GWP(지구온난화지수)가 1인 CO2를 냉매로 사용합니다. 이는 규제 요건을 충족할 뿐만 아니라, 보다 효율적인 운용과 CO2 발자국의 획기적인 감축을 가능하게 합니다.

까다로운 전자 부품 테스트에 적합한 표준 솔루션

전자제품 테스트는 신뢰가 핵심입니다. 고성능 테스트 챔버 분야의 선도적인 공급업체 중 한 곳으로서 Weiss Technik은 Weiss Technik은 고객의 요구 사항에 맞춰 조정 가능한 다양한 표준 챔버를 제공합니다. 이 챔버들은 270~1,300리터의 테스트 챔버 용량을 갖추고 있으며, -70~+180°C의 온도 범위와 10~25K/분(옵션 시 최대 30K/분)의 온도 변화율을 구현합니다. 1.4404 등급의 스테인리스 스틸 소재와 견고한 설계를 적용하여 전자 산업 및 테스트 실험실에서의 사용에 이상적입니다. Weiss Technik은 다년간의 경험과 전문적인 컨설팅 역량을 바탕으로, 고성능 전자 부품 테스트에 있어 신뢰성, 비용 효율성 및 지속 가능성을 제공합니다.



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